نشر رئيس قسم هندسة المواد في الجامعة التكنولوجية أ.م.د.احمد محمد حسن بحثا علميا  عن :

 " التقييم البنيوي للغشاء الرقيق C(Ti,Al) المصنع بتقنية الترسيب المغناطيسي نسبة لتركيز الالمنيوم " .

 "Aluminum concentration drives the structural evolution of magnetron sputtering (Ti,Al)C thin film"

  في مجلة الهندسة  والتكنولوجيا العدد 1 من مجلد 36 .

وتطرق البحث الى دراسة تأثير تغير التركيز الكيميائي لعنصر الالمنيوم الذي تم ترسيبه بطريقة الترسيب المغناطيسي (Magnetron sputtering) على سطح كاربيد التيتانيوم على بنية الغشاء الرقيق الناتج ومن خلال فحص الغشاء الرقيق وتقييمه عند درجة حرارة الغرفة تبين ان نسب العناصر تتراوح بين (60.55%-36.74%),(30.61%-12.05%) و(47.69%-22.53%) للتيتانيوم. الالمنيوم والكاربون على التوالي حيث اظهرت نتائج حيود الاشعة السينية حصول تبلور في جزء معين من الغشاء من خلال ظهور اطوار معينة اضافة الى وجود جانب غير متبلور نسبة لتغير تركيز الالمنيوم حيث وجد ان احتمالية تبلور الغشاء الرقيق قد تزداد بزيادة نسبة الألمنيوم المذيب.